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伍凤

浅析IC测试开发流程及量产数据对产品设计的影响

浅析集成电路(IC)测试开发流程,包括测试方案制定、测试程序开发、测试向量与电压电流设置、ATE调试等,并阐明量产测试数据对产品设计验证与改进的反馈影响。

伍凤及对开发数据流程浅析测试量产
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